產(chǎn)品展示
當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品展示文物檢測(cè)X射線文物檢測(cè)CT
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION文物CT檢測(cè)掃描分析系統(tǒng)主要分為高能量CT和微焦點(diǎn)CT。CT是基于計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù),對(duì)文物進(jìn)行2D,3D檢測(cè)。 其應(yīng)用主要有六個(gè)方面: ●對(duì)文物內(nèi)部結(jié)構(gòu)及形貌進(jìn)行無(wú)損掃描并分析; ●對(duì)文物的起源,制作工藝、產(chǎn)地和用途提供重要信息; ●對(duì)文物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及尺寸進(jìn)行二維、三維的測(cè)量; ●對(duì)文物的穿孔內(nèi)壁,鑲嵌加工痕跡數(shù)據(jù)分析,及數(shù)據(jù)庫(kù)的建立; ●高精度獲取與解讀文物的三維信息,并可實(shí)現(xiàn)逆向工程
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