X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等。并且，可通過峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。可通過半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。

　　

　　X射線衍射儀原理：

　　

　　x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。以上是1912年德國物理學(xué)家勞厄(M.vonLaue)提出的一個(gè)重要科學(xué)預(yù)見，隨即被實(shí)驗(yàn)所證實(shí)。1913年，英國物理學(xué)家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在勞厄發(fā)現(xiàn)的基礎(chǔ)上，不僅成功的測定了NaCl，KCl等晶體結(jié)構(gòu)，還提出了作為晶體衍射基礎(chǔ)的公式——布拉格方程：2dsinθ=nλ。

　　

　　對于晶體材料，當(dāng)待測晶體與入射束呈不同角度時(shí)，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序，只是在幾個(gè)原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。

　　

　　X射線衍射儀是利用衍射原理，測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。

　　

　　簡單的使用維護(hù)：

　　

　　X射線衍射儀的觸屏可以顯示儀器的工作狀態(tài)及報(bào)警信息，這些信息同時(shí)會傳遞給連著的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，有計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的控制軟件對狀態(tài)及報(bào)警信息進(jìn)行管理，通過這些信息可以方便的知道儀器的運(yùn)行狀況及故障信息，這些信息使得用戶在進(jìn)行簡單的培訓(xùn)之后，就可以對自己的儀器進(jìn)行常規(guī)的維護(hù)及維修操作。